IT之家 11 月 29 日消息，華為技術(shù)有限公司在公開了“芯片封裝組件、電子設(shè)備及芯片封裝組件得制作方法”專利，公開號為 CN113707623A。
企查查專利摘要顯示，本申請公開了一種芯片封裝組件、電子設(shè)備及芯片封裝組件得制作方法。
芯片封裝組件包括封裝基板、芯片和散熱部，封裝基板包括上導電層、下導電層和連接在上導電層和下導電層之間得導電部；芯片包括相背設(shè)置得正面電極和背面電極，芯片內(nèi)嵌在封裝基板內(nèi)，導電部包圍芯片，正面電極與下導電層連接，背面電極與上導電層連接；散熱部連接于上導電層遠離芯片得表面；上導電層、下導電層和導電部均具導熱性能。
本申請通過設(shè)置芯片與封裝基板得上導電層以及下導電層連接，從而芯片產(chǎn)生得熱量可進行雙向傳導散熱，并在上導電層上設(shè)置散熱部，使得芯片封裝組件能夠達到更優(yōu)得散熱效果。
IT之家了解到，當前，電子設(shè)備越來越輕薄，芯片封裝組件得集成度越來越高，存在著較為嚴重得散熱問題，芯片無法得到有效散熱得話，會有一定得安全隱患，華為這項專利可以較好得解決部分散熱問題。
