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[1]劉文軒,胡小英.完全相干光系統(tǒng)對(duì)兩點(diǎn)分辨率成像研究[J].自動(dòng)化與儀器儀表,2022,No.277(11):233-236.DOI:10.14016/jki.1001-9227.2022.11.233.
：劉文軒 ,胡小英
(西安工業(yè)大學(xué)光電工程學(xué)院)
摘 要 :對(duì)于兩點(diǎn)分辨率問(wèn)題 , 目前已有比較深入研究 ,其中最著名得理論是瑞利判據(jù) ,但該判據(jù)只針對(duì)理想狀 態(tài)下
完全非相干研究 ,對(duì)于完全相干這種極限情況研究卻極少 。根據(jù)兩點(diǎn)分辨率原理 ,建立兩物點(diǎn)間距與像面光強(qiáng)得數(shù)學(xué)模型 ,通過(guò)仿真結(jié)果給出完全相干光照明條件下兩點(diǎn)光源成像得一般規(guī)律 :在完全相干光照明條件下 ,隨著物 點(diǎn)間距增大 ,兩點(diǎn)分辨能力增強(qiáng) 。最后通過(guò)理論像面光強(qiáng)與實(shí)際像面光強(qiáng)得比值分析說(shuō)明在完全相干光照明條件下 存在分辨極限且兩物點(diǎn)分辨極限為 1. 5 mm。
關(guān)鍵詞 :光學(xué)成像系統(tǒng);瑞利判據(jù);相干光;兩點(diǎn)分辨率 ;圓孔衍射
（ 自動(dòng)化與儀器儀表 2022年第11期）
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